鹽霧試驗有哪些國家標準？

01 GB/T5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法--鹽霧試驗設(shè)備

02 GB/T 4797.6-1995電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件--塵、沙、鹽霧

03 GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗試驗Kb：鹽霧，交變                       04 GB/T 12967.3-1991鋁及鋁合金陽極氧化--氧化膜的銅加速醋酸鹽霧試驗（CASS試驗）

05 GB/T 10125-1997 人造氣氛腐蝕試驗--鹽霧試驗

06 GB 8993.12-1988 核儀器環(huán)境試驗基本要求與方法鹽霧試驗

07 GB 6460-1986金屬覆蓋層--銅加速乙酸鹽霧試驗（CASS試驗）

08 GB 6459-1986 金屬覆蓋層--乙酸鹽霧試驗（ASS試驗）

09 GB 6458-1986 金屬覆蓋層--中性鹽霧試驗（NSS試驗）

10 GB 5940-1986輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學處理層的耐腐蝕試驗方法--銅鹽加速乙酸鹽霧試驗（CASS）法

11 GB 5939-1986輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學處理層的耐腐蝕試驗方法--乙酸鹽霧試驗（ASS）法

12 GB 5938-1986輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學處理層的耐腐蝕試驗方法--中性鹽霧試驗（NSS）法

13 GB 5589.5-1985 電纜附件試驗方法--第5部分：鹽霧試驗

14 GB 5170.8-1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法--鹽霧試驗設(shè)備

15 GB 4585.1-1984交流系統(tǒng)用高壓絕緣子人工污穢試驗方法鹽霧法

16 GB 2423.17-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka：鹽霧試驗方法

17 GB 1771-1979 漆膜耐鹽霧測定法

18 GB 1765-1979 測定耐濕熱、耐鹽霧、耐候性（人工加速）的漆膜制備法

19 GB 12085.4-1989 光學和光學儀器--環(huán)境試驗方法--鹽霧

20 GB 11606.13-1989 分析儀器環(huán)境試驗方法--鹽霧試驗

21 GB 10593.2-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法--鹽霧

22 GB 10587-1989 鹽霧試驗箱技術(shù)條件

23 GB 10263.7-1988 輻射探測器環(huán)境試驗基本要求與方法--鹽霧試驗

24 GB 10125-1988 人造氣氛中的腐蝕試驗鹽霧試驗（SS試驗）

25 GB/T 18912-2002 光伏組件鹽霧腐蝕試驗

26 GB/T 12000-2003 塑料暴露于濕熱、水噴霧和鹽霧中影響的測定

27 GB/T 18310.26-2003 纖維光學互連器件和無源器件-基本試驗和測量程序第2-26部分：試驗-鹽霧

28 GB/T 18912-2002 光伏組件鹽霧腐蝕試驗

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